在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時,使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。
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日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。● 內(nèi)置比較器和BIN功能● 2ms的快速測試時間本產(chǎn)品不標配測量探頭和測試夾具。請結(jié)合應(yīng)用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.
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日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線
● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試時間
本產(chǎn)品不標配測量探頭和測試夾具。請結(jié)合應(yīng)用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接:交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637,不需要硬件控制器。
日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線
測量模式 | LCR,連續(xù)測試 |
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測量參數(shù) | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,10個量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) |
可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ~9.99999G [單位])(*為最高分辯率時的顯示位數(shù)) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測量頻率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
測量信號電平 | 正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms |
輸出阻抗 | 正常模式:100Ω |
顯示 | 單色LCD |
測量時間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比較器,分類測量(BIN功能),面板讀取/保存、存儲功能 |
接口 | EXT I/O(處理器),USB通信(高速) 選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一 |
電源 | 100~240V AC,50/60Hz,最大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時,使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。
為了使用1臺LCR測試儀測量多種產(chǎn)品,要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60組測量條件,還能保存128個開路/短路補償和線長補償?shù)鹊难a償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構(gòu)筑自動化檢查產(chǎn)線的時間。
檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,如果在所設(shè)置的閾值以上時則顯示錯誤。
僅需輸入數(shù)值即可輕松計算精度。
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